一.儀器設備的基本上組成

　　1.燈源

　　光源能發送出平穩、高韌性、持續光波長的紅外線，通常應用能威爾(Nernst)燈、碳碳復合材料或涂成希土化學物質的鎳絡旋狀鎢絲。

　　2.干涉儀

　　邁克耳孫(Michelson)干涉儀的功能是將單色光變成干涉光。中紅外線干涉儀中的分束器主要是由溴化鉀原材料制作而成的;近二手紅外光譜儀分束器一般以石英石和CaF2為原材料;遠紅外線分束器一般由Mylar膜和網格圖固態原材料做成。

　　3.檢測器

　　檢測器一般分成熱檢測器和光檢測器兩類。熱檢測器是把一些熱電器件的結晶放到二塊金屬片中，當光照射結晶處時，結晶表層電荷密度轉變，從而可以精確測量紅外輻射的輸出功率。熱檢測器有氘代鹽酸三甘肽(DTGS),鉭酸鋰(LiTaO3)等種類。光檢測器是運用原材料漫射直射后，因為導電率能的變動而造成數據信號，最經常使用的光檢測器有銻化銦、汞鎘碲等種類。

二.原理

　　用一定次數的紅外線對焦直射被剖析的試品時，假如分子結構中某一官能團的振動頻率與直射紅外感應頻率同樣便會造成共震，進而消化吸收一定次數的紅外感應，把分子結構消化吸收紅外感應的這樣的事情用儀器設備記下來，便能獲得全方位體現試品成份特點的光譜儀，從而推斷化學物質的種類和構造。20新世紀70時代發生的傅里葉變換二手紅外光譜儀是一種非散射型的第三代紅外線消化吸收光譜儀，其光學元件的行為主體是邁克耳孫(Michelson)干涉儀，干涉儀的構造如下圖14-2所顯示。

　 　圖14-2邁克耳孫干涉儀框架圖

　　邁克耳孫干涉儀首要由2個互成90o的平面鏡(動鏡和定鏡)和一個分束器構成。固定不動定鏡、可調式動鏡和分束器構成了傅里葉變換二手紅外光譜儀的關鍵部件—邁克耳孫干涉儀。動鏡在穩定挪動時要隨時與定鏡維持90o。分束器具備透明色特性，坐落于動鏡與定鏡中間并和他們呈45o置放。由燈源射來的一束光抵達分束器時即被它分成兩束，Ⅰ為折射光，Ⅱ為電子散射光，在其中50%的光電子散射到動鏡，此外50%的光的反射到定鏡。射向探測儀的Ⅰ和Ⅱ兩束光會合在一起變成具備干涉光特點的相干光。動鏡挪動至兩束光光程差為半光波長的雙數倍時，這兩束光產生獨學干涉，干涉圖由紅外線檢測器得到，可見光的干涉如下圖14-3所顯示，結果經傅里葉變換解決獲得紅外光譜圖。FTIR的原理如下圖14-4所顯示。

　　 圖14-3可見光的干涉圖

　 　圖14-4傅里葉變換二手紅外光譜儀原理

　　可見光的干涉圖和基本上方程式：

　　Michelson干涉儀挪動時兩鏡相距隨意δ時的光照強度I (δ) ,①當O點至動鏡和定鏡的間距相同時無光程差。②當O點至兩鏡間距(δ表明)相距λ/4的雙數倍時為獨學干涉，光照強度加強;相距λ/4的奇倍數時為相消干涉，光照強度變弱。產生在以上

　　二種偏移中間，一部分為相消干涉。

　　若令I為兩光線干涉后的抗壓強度，

　　則

　　I(δ) =0. 51(

　　) cos2πδ/λ

　　或

　　I(δ)=0. 51(

　　)cos2δvπ

　　光照強度隨光波長轉變I(v)而不是光照強度隨兩鏡間距差轉變I(δ)。

　　以此類推，Ⅰ和Ⅱ兩相干光光程差轉變所形成的干涉有如下所示規律性：光程差為±nλ(n=0,1,2,…)，產生獨學干涉，光程差為n±1/2λ (n=0,1, 2,…)，產生相消干涉。正號表明動鏡從零位向避開分束器方位挪動;正負號表明動鏡從零位向分束器方位挪動;零位是動鏡距分束器和定鏡距分束器相同的位置。這時，探測儀上檢驗到的網絡信號為

　　 這就是峰位為

　　的可見光的干涉圖方程式。