BOK-F連續(xù)可變角附件是一款高性能研究級別的鏡反射附件，其獨特的可變角光學設(shè)計使其可以控制光束穿透樣品的深度，進行深度剖面研究。通過改變BOK-F連續(xù)可變角附件的入射角可以優(yōu)化從單分子膜到相對較厚的薄膜的實驗過程。 典型應(yīng)用包括深度剖面、單分子膜和超薄膜分析、聚合物取向測定和光譜電化學等。同時我們也是國內(nèi)唯一的變角電化學附件供應(yīng)商（半球形ATR/MEMS硅ATR），可完全取代Pike等國外附件，主要應(yīng)用于電池研究，界面化學研究等。

特點：

1、30-80°入射角連續(xù)可調(diào)

2、半球形ATR晶體,連續(xù)變角掃描時無需更換可配置

3、可配置SIE表面增強型紅外光譜晶體

4、四種晶體材料( Si、znse、ge、caf2)可選彈簧式金觸點電極設(shè)計

5、采用PEEK和玻璃池身,耐腐蝕可選高壓夾具,用于薄膜、涂層或粉未取樣

BOK-F連續(xù)可變角附件使用表面增強紅外光譜技術(shù)(ATR- SEIRAS)替代半球晶體,極大的減少光譜吸收損失,拓展應(yīng)用范圍,為客戶在中遠紅外區(qū)進行測試提供了極大的便利。BOK-F連續(xù)可變角附件能夠?qū)щ娊饘偃芤航缑孢M行基礎(chǔ)研究,并在分子自組裝、界面?zhèn)鞲泻拖乱淮茉唇鉀Q方案中應(yīng)用。

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